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電遷移效應
Electro-Migration, EM
電遷移是基於電流流過材料的原子運動。如果電流密度足夠高,材料內散發的熱量會反復將原子從結構中分離出來並移動它們。電遷移效應可能造成電路連接斷開,從而影響晶片的正常工作。
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