IBM Airgap技術評析

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出版作者 陳俊儒
出版單位 工研院IEK電子分項
出版日期 2007/06/20
出版類型 產業評析
所屬領域 半導體
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摘要

隨著元件的尺寸縮小到深次微米的階段,為了要降低金屬連線傳遞的時間延遲(RC time delay),採用低介電常數(low dielectric constant, low-k)的介電材質已是不可避免的趨勢。依照ITRS低介電材料技術發展藍圖,為了符合電導性的需求及降低介電材料的介電係數,導入新的低介電材料為先進製程刻不容緩的工作。...

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