2008年IC測試業現況與展望

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出版作者 李佩縈
出版單位 工研院IEK電子分項
出版日期 2008/04/01
出版類型 產業評析
所屬領域 半導體
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摘要

2007年台灣IC測試產業,除了龍頭測試大廠之外,其餘廠商之營收僅能維持低個位數之成長,與過去幾年大幅成長之情況相異。主要原因在於台灣以記憶體測試為主,在記憶體報價走跌之情況之下,後段測試之平均單價也遭壓縮,一旦接單量能無法大幅度增加,對營收成長之影響將相當明顯。整體而言,2007年台灣測試產業表現出成長放慢之態勢,總計2007年台灣測試產值為1,023億新台幣,較2006年成長10.7%,預估2...

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