3D IC應用

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出版作者 董鍾明
出版單位 工研院IEK電子分項
出版日期 2007/08/17
出版類型 產業評析
所屬領域 半導體
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摘要

傳統針對SiP的廣泛定義為,存在一顆以上晶粒的封裝體,即可稱為SiP。而在封裝體內各晶粒的訊號傳遞連接技術,不外乎透過打線連接(Wire Bonding),或是覆晶連接(Flip Chip)技術。近二年來廠商研發出新的晶粒連接技術-矽穿孔(Through Silicon Vias; TSVs),直接透過晶圓穿孔並利用電鍍穿孔,以達到上下晶粒訊號連接的目的。業界泛指利用TSVs連接晶粒的封裝稱為3D...

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