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自動化光學檢測設備CCD取像技術分析

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出版作者 哈建宇
出版單位 工研院IEK系統能源組
出版日期 2005/03/21
出版類型 產業評析
所屬領域 機械設備
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摘要

自動化光學( 視覺) 檢測設備(AOI;Aotomatic Optical InspectionEquipment)目前已大幅度應用於IC 與LCD 的構裝設備中,使用面掃描型(矩陣式)CCD 進行視覺影像擷取時,不需要任何機構運動的搭配,僅需確保取像時影像於取像時間內,均位於可視範圍以內即可。於IC 後段的相關設備如黏晶機、銲線機以及整列機等設備中,均應用此技術以進行晶粒的定位以及檢測,如晶粒缺...

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