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半導體信賴性試驗裝置市場趨勢

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出版作者 張振堶
出版單位 工研院IEK系統能源組
出版日期 2004/02/27
出版類型 產業評析
所屬領域 資訊硬體
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摘要

信賴性試驗是半導體設計與製造過程中必要的一項試驗,信賴性試驗的目的,是將有可能成為不良品的潛在不良品予選出並去除。信賴性試驗的做法,就是以人工方式,製造出模擬的惡劣環境,讓半導體在這種環境之下,測試能夠承受的狀況。...

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