可測性設計(Design for Testability)雖然已經使用超過十年以上，但由於晶片複雜度不斷地增加，許多延用多年的可測性設計技術或是工具功能皆已不敷使用。業界也開始正視此一問題，紛紛提出新的解決方案，以因應百萬閘級以上的設計規模。...
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