由全球ATE市場看SoC測試需求

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出版作者 董鍾明
出版單位 工研院IEK電子分項
出版日期 2004/08/16
出版類型 產業評析
所屬領域 半導體
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摘要

圖一為全球專業代工測試市場規模發展趨勢,整體而言除了2006年會出現1.7%的負成長之外,其餘各年度均呈現相當穩定的成長值。由於我們很難就圖一全球晶片測試市場規模去推論屬於SoC測試的市場值,進而觀察SoC測試市場規模的變化。因此本文以自動化測試設備(Automated Test Equipment; ATE)銷售分佈情形,分析SoC市場的變化趨勢。...

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